產(chǎn)品特性:
短波紅外成像, 檢測(cè)硅類(lèi)半導(dǎo)體餐料的內(nèi)部缺陷或是雙面成像;
應(yīng)用場(chǎng)景:
碳化硅類(lèi)半導(dǎo)體材料透視成像